Modernste Untersuchungsmethoden zum Verständnis neuer Materialien
Messverfahren wie die Rasterkraftmikroskopie (AFM) liefern vielfältige Daten über die untersuchten Proben. Diese Daten müssen sinnvoll interpretiert werden, denn der wahre Wert der Untersuchungen liegt in ihrem Zusammenhang mit den Material- und Anwendungseigenschaften.
Das Herz eines Rasterkraftmikroskops zur Untersuchung von Oberflächen ist der etwa Handteller große Scanner. Er lässt die daran montierte Mess-Spitze mit der Genauigkeit von Bruchteilen von Nanometern, also der Größe einzelner Atome, über die Probe fahren.